Американские физики разработали новейшую методику просвечивающей электронной микроскопии, доведя разрешение микроскопа до 0,04 нанометра. Об этом сообщается в издании Nature.



Речь идет о методе птихографии, позволяющем реконструировать изображение из огромнейшего числа спектров дифракционного плана, полученных при разных условиях. Чтобы добиться желаемого эксперты приуменьшили энергию электронного пучка, применив детектор специального назначения на улавливание рассеянных электронов (речь идет о совсем небольшом их количестве). Благодаря нововведению как раз и удалось получить изображения в 2-2,5 раза выше, чем ранее.

Стоит отметить, что широчайшее применение получил именно метод микроскопии, позволяющий получать изображения с поверхности кристаллического вещества, с его помощью с легкостью можно рассмотреть отдельные атомы. В атомно-силовых же микроскопах можно добиться атомарного разрешения, и при помощи сканирующих иголок можно даже двигать молекулы и атомы в пространстве. Благодаря применению электронной оптики в современной варианте можно избавиться от искажений разного рода и получать изображения до десятой доли нанометра.